Mikroskop s rastrující sondou - AFM
Kompletní sada mikroskopu s rastrující sondou (SPM) s veškerým příslušenstvím podle následujících specifikací, které by měly umožnit veškeré operace v kapalinách a na vzduchu. Možné měřící módy musí být Contact, Non-Contact, Intermittent contact, MFM, EFM, STM, nanolitografie a nanoindentace. AFM bude využíváno pro měření vlastností materiálů různého typu a jejich vzájemnou interakci, vč. interakce s živými buňkami. Je nutné mít možnost měřit jak transparentní, tak neprůhledné vzorky: Kompletní sada atomic force microscope (AFM) s veškerým příslušenstvím podle následujících specifikací, které by měly umožnit veškeré operace v kapalinách a na vzduchu. Možné měřící módy musí být Contact, Non-Contact, Intermittent contact, Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrostatic Force Microscopy (EFM), Conductive Atomic Force Microscopy (CAFM), Scanning Tunneling Microscopy (STM), nanolitografie a nanoindentace. AFM bude využíváno pro měření vlastností materiálů různého typu a jejich vzájemnou interakci, včetně interakce s živými buňkami. Je nutné mít možnost měřit jak transparentní, tak neprůhledné vzorky.
Máte-li zájem o nejnovější poptávky a další nadstandardní služby, staňte se
klientem Evropské databanky